RTEDResearch on Teacher Education and Development3066-89993066-9006Art and Technology10.61369/RTED.2025150008Article基于ST2500平台的《集成电路测试技术》课程内容设置研究 —— 以“数字芯片的开短路测试”的教学为例https://artdesignp.com/journal/RTED/1/15/10.61369/RTED.2025150008张淞柚,司鹏雪20251152025-09-19《集成电路测试技术》作为集成电路专业核心课程，其教学内容需紧密结合产业需求以培养高素质测试人才。本文以数字芯片开短路测试为例，对比通用仪器与自动测试设备（ATE）的测试流程，探讨高职院校课程实践内容设置。通用仪器测试效率较低，但适用于基础教学，可用于分立器件等基础器件测试；ATE 测试机通过自动化编程显著提升测试速度与精度，适合数字、模拟及混合芯片的进阶实践。集成电路测试技术,自动测试设备,实训设备

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